TFT（Thin Film Transistor，薄膜晶體管）的可靠性評(píng)測(cè)是一個(gè)綜合性的評(píng)估過(guò)程，是確保TFT液晶屏等電子產(chǎn)品質(zhì)量和性能穩(wěn)定的重要環(huán)節(jié)。TFT的可靠性評(píng)測(cè)項(xiàng)目眾多，評(píng)測(cè)結(jié)果將直接影響TFT液晶屏的質(zhì)量和性能評(píng)估。通過(guò)評(píng)測(cè)，可以篩選出性能穩(wěn)定、質(zhì)量可靠的TFT液晶屏，為電子產(chǎn)品提供優(yōu)質(zhì)的顯示解決方案。
TFT類型 | 測(cè)試項(xiàng)目 | 取值說(shuō)明 |
LTPS PMOS TFT DTFT/STFT | NBTS | ?T=70℃，Vg=-30V，Vd=0V，Vs=0V ?每隔一段時(shí)間提取一次IDVG曲線，一般選取0、10、100、1000、1800、3600、7200s時(shí)間點(diǎn) ?計(jì)算ΔVth@7200s-0s |
PBTS | ?T=70℃，Vg=30V，Vd=0V，Vs=0V ?每隔一段時(shí)間提取一次IDVG曲線，一般選取0、10、100、1000、1800、3600、7200s時(shí)間點(diǎn) ?計(jì)算ΔVth@7200s-0s | |
HCI | ?T=25℃，Vg=-15V，Vd=-30V，Vs=0V ?每隔一段時(shí)間提取一次IDVG曲線，一般選取0、10、100、1000、1800、3600、7200s時(shí)間點(diǎn) ?計(jì)算ΔVth@7200s-0s | |
HYS | ?T=25℃，Vd=-5.1V，Vs=0V ?Vg掃描從15→-15V，再?gòu)?15→15V ?計(jì)算兩條IDVG曲線的ΔVth | |
CBTS | ?T=70℃，Vg=L255灰階電壓，Vd=L255灰階電壓 ?每隔一段時(shí)間提取一次IDVG曲線，一般選取0、10、100、1000、1800、3600s時(shí)間點(diǎn) ?計(jì)算ΔVth@3600s-0s | |
光照 | ?對(duì)樣品進(jìn)行一定強(qiáng)度光照，測(cè)試光照前后IDVG曲線，計(jì)算ΔVth和ΔSS | |
加熱 | ?對(duì)樣品進(jìn)行加熱（25→40→60→80℃），測(cè)試每個(gè)溫度下的IDVG曲線，計(jì)算ΔVth和ΔSS |
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