在Fabrication廠家流片完成以后，Wafer在劃片之前必須經(jīng)過的CP芯片測(cè)試，一方面驗(yàn)證IC各項(xiàng)參數(shù)及功能是否達(dá)到設(shè)計(jì)要求，另一方面把參數(shù)或功能失效的IC從中標(biāo)示出來，綁定時(shí)就不必綁定這些功能失效的IC，因而提高了成品率，并且節(jié)約成本。主要是功能的測(cè)試、直流參數(shù)和交流參數(shù)。后兩項(xiàng)參數(shù)的測(cè)試是根據(jù)IC設(shè)計(jì)公司提供的參數(shù)在程序中設(shè)定的，而前者功能測(cè)試顧名思義是根據(jù)設(shè)計(jì)公司提供的測(cè)試向量或功能波形圖，根據(jù)此加入激勵(lì)信號(hào)，然后檢測(cè)輸出端的數(shù)據(jù)是否正確。通過各項(xiàng)參數(shù)及功能的IC算是合格的，否則認(rèn)為是失效片。
一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目在其他各項(xiàng)參數(shù)都測(cè)試通過，就是功能不能夠通過時(shí)，主要會(huì)看：一、功能測(cè)試的電壓是多少？頻率是多少？二、測(cè)試時(shí)輸入（激勵(lì)）信號(hào)加的對(duì)不對(duì)？三、是否完全按照測(cè)試說明書的要求施加各種信號(hào)？到這幾點(diǎn)以后，可以說就已經(jīng)完成了功能測(cè)試任務(wù)的，剩下的就要求測(cè)試工程師必須具備測(cè)試知識(shí)：如對(duì)正倍壓、負(fù)倍壓概念的理解；外加時(shí)鐘還是以IC本身時(shí)鐘進(jìn)行功能測(cè)試；以及測(cè)試時(shí)Strobe點(diǎn)選擇的問題,還有最重要的一點(diǎn)就是Clock施加的方式，下面是幾種施加Clock方式的波形模式圖。
對(duì)于直流參數(shù)測(cè)試編程，有些參數(shù)并不需要我們進(jìn)行精確的測(cè)試，我們就可以用 “go on go”的測(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試，可以節(jié)約測(cè)試的時(shí)間。但如果要求安電流的大小進(jìn)行分檔歸類，就必須用“PMU”（Precision Measure Unit）或“DPS”對(duì)電流進(jìn)行測(cè)試，而且“PMU”或“DPS”的量程必須選擇正確，盡量用接近最大值的量程來進(jìn)行測(cè)量——這樣測(cè)試的數(shù)據(jù)的精度才能夠得到保證。
測(cè)試驅(qū)動(dòng)能力有時(shí)要結(jié)合功能測(cè)試一起測(cè)，只有在被測(cè)試的管腳輸出為“High”或“Low”時(shí)，才可以用PMU來施加電流測(cè)電壓（VOh、voL）或施加電壓測(cè)電流（IOh、IOl），必須注意，測(cè)試功能施加的Clock必須停止，以使IC工作狀態(tài)維持在當(dāng)前狀態(tài)不變以便于測(cè)試該項(xiàng)參數(shù)。Open/Short 就是測(cè)試IC每一Pin的保護(hù)二極管是否存在開、短路現(xiàn)象。因?yàn)樵谠O(shè)計(jì)時(shí)為每一Pin設(shè)計(jì)出了一對(duì)保護(hù)二極管，一般接電源和接地端，用來對(duì)每一Pin進(jìn)行限壓保護(hù)的作用，如果管腳比較多時(shí)，可采用只測(cè)試排位圖的四個(gè)角上的幾個(gè)點(diǎn)即可，當(dāng)然在調(diào)試程序時(shí)最好全部測(cè)試,注意一點(diǎn)：測(cè)試時(shí)電源VDD和地VSS均加0V電壓，然后通過PMU施加電流測(cè)試電壓，通過讀出的電壓值的大小是否在合格范圍內(nèi)來判斷芯片該項(xiàng)測(cè)試是否失效。
對(duì)于交流參數(shù)測(cè)試主要是頻率的測(cè)試。一般IC要求測(cè)試的輸出端的頻率并不高，而且均是經(jīng)過內(nèi)部分頻后的信號(hào)，因而測(cè)試儀可以不需設(shè)計(jì)專門硬件電路進(jìn)行分頻，就可以直接測(cè)試出芯片的工作頻率。但如果是高頻工作的IC，這時(shí)測(cè)試就必須考慮多方面的綜合因素：如果需要分頻才能夠測(cè)試出頻率，必須設(shè)計(jì)出分頻電路經(jīng)過轉(zhuǎn)換再測(cè)試；如果存在干擾，就必須在軟硬件兩方面采取措施排除各種干擾；硬件上如可以采取屏蔽測(cè)試，軟件上可編制出濾波的程序。
對(duì)于一些因?yàn)樵O(shè)計(jì)的原因而造成IC起振慢的缺陷，這時(shí)須權(quán)衡各方面的因素盡量提高測(cè)試的成品率。有時(shí)直流參數(shù)的測(cè)試和交流參數(shù)的測(cè)試是相互聯(lián)系的，比如一般的表（三位半、六位半等）以及驅(qū)動(dòng)LCD的IC，測(cè)試它的工作電流時(shí)必須要等到芯片完全起振以后再測(cè)試，只有完全起振以后它的電流才穩(wěn)定下來，這時(shí)的電流才最小。必要時(shí)可以采用反復(fù)多測(cè)幾次的方法來提高測(cè)試的成品率。
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