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基于ATE的IC測試精確度及穩(wěn)定性問題

發(fā)布時(shí)間:2024-07-24 09:42
作者:chinacryo

       隨著IC產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展,IC的復(fù)雜度及其電氣參數(shù)的性能也日益提高,同時(shí)也給IC測試帶來了眾多難題,其中測試的精確度及穩(wěn)定性是一直困擾工程師的兩大難題,尤其在量產(chǎn)ATE測試時(shí)表現(xiàn)更為嚴(yán)重,那么,如何在測試中做到精確、穩(wěn)定的測試這些IC的各項(xiàng)性能參數(shù),以確保產(chǎn)品質(zhì)量,并避免由于測試不穩(wěn)定而導(dǎo)致反復(fù)重測而浪費(fèi)大量測試時(shí)間呢?

       在IC的測試中,電壓的測試是所有測試參數(shù)中最為常見的一種參數(shù),尤其是模擬芯片的測試,電壓測試更顯常見及重要。在調(diào)試中也經(jīng)常會遇到電壓測的不精確或者不穩(wěn)定的現(xiàn)象,對于測試不精確的問題,目前主要采用correlation的辦法,來調(diào)整測試的誤差,但這種方法對于線性的芯片尚可使用,但對于非線性的芯片卻無用武之地。針對測試不穩(wěn)定的問題,大多采用多次測量取平均值的辦法來解決,但這種辦法也是治標(biāo)不治本,同樣會給產(chǎn)品的質(zhì)量帶來隱患。那么如何解決電壓測試的這些問題呢?

       一般在開發(fā)測試程序之前必須了解所測試的芯片的功能及性能參數(shù),這樣在開發(fā)及調(diào)試程序時(shí)才能心中有數(shù),比如測試LDO的輸出電壓參數(shù),你必須清楚:在當(dāng)前的輸入及輸出濾波電容之下,它的輸入電壓加上之后,輸出電壓需要多長時(shí)間才能達(dá)到穩(wěn)定,而你在程序中設(shè)定的等待時(shí)間必須大于這個(gè)穩(wěn)定時(shí)間,這樣才能做到測試的準(zhǔn)確且穩(wěn)定。當(dāng)然LDO的輸出穩(wěn)定時(shí)間一般都在微秒級(幾十到上百微秒),所以調(diào)試時(shí)不太會遇到此類問題,但有的時(shí)候我們需要測試芯片內(nèi)部的基準(zhǔn)電壓,但又沒有辦法直接進(jìn)行測試,只能通過其他的引腳間接測試。

       我們在ATE測試時(shí)會測試一些靜態(tài)直流參數(shù),如bypass、Vo1、Vo2端電壓值,當(dāng)你仔細(xì)研讀此芯片的手冊,你會發(fā)現(xiàn)在電源電壓為5V、Cbypass為1Uf時(shí)(注意不同的電源電壓及Cbypass電容,其穩(wěn)定時(shí)間也是不同的),bypass端的電壓需要至少100ms才能達(dá)到穩(wěn)定,而Vo1、Vo2端的電壓又受bypass端電壓的影響,所以要想穩(wěn)定且準(zhǔn)確的測試這些直流參數(shù),必須要在芯片上電之后等待100ms以上再進(jìn)行測試(必須考慮不同批次芯片間的差異,所以在實(shí)際測試中的等待時(shí)間可在120ms左右),但對于量產(chǎn)測試,測試時(shí)間的長短將直接影響到測試效率及測試費(fèi)用,我們必須縮短測試時(shí)間!那么如何來解決這個(gè)問題呢,一般我們可以采用如下兩種辦法:

       第一,可以減小Cbypass的電容,這樣同樣的充電電流及電壓,充電時(shí)間會隨著電容的減小而減少,可以使用0.1uF或者更小的電容來替代,但這樣做肯定會影響到后面的交流參數(shù)(如THD)的測試,需要通過測試評估或外加繼電器來解決。

       第二,可以采用預(yù)充電的方式對Cbypass進(jìn)行提前大電流充電,如果bypass端在電源電壓為5V時(shí)正常情況下是2.5V左右,我們可以預(yù)充電到2.3V,這樣同樣可以節(jié)省很多時(shí)間,但必須注不要在充電的同時(shí)給bypass端帶來額外的干擾,而導(dǎo)致芯片不能正常工作。

       震蕩在芯片調(diào)試時(shí)也是比較常見的現(xiàn)象,由此給芯片測試也帶來諸多問題,引起震蕩的原因有很多:輸出容性負(fù)載的大小、阻抗不匹配、不當(dāng)?shù)姆答伝芈返?。但是我們在?shí)際調(diào)試中可能沒有注意到這一點(diǎn),如果選用的輸出電容不是在芯片穩(wěn)定所需要的容值范圍之內(nèi),那么輸出就會產(chǎn)生震蕩,導(dǎo)致輸出測試不準(zhǔn)且不穩(wěn)定。另外震蕩不光是在芯片正常工作時(shí)發(fā)生,在靜態(tài)時(shí)也有可能發(fā)生。尤其當(dāng)你測試放大倍數(shù)比較高的運(yùn)放時(shí),此時(shí)的輸入引腳要特別注意,必要時(shí)要進(jìn)行隔離,以免引入不必要的噪聲而導(dǎo)致輸出產(chǎn)生震蕩。


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標(biāo)簽:芯片可靠性老化試驗(yàn)箱

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