IC測試主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來越大，對電路的質(zhì)量與可靠性要求進一步提高，集成電路的測試方法也變得越來越困難。因此，研究和發(fā)展IC測試，有著重要的意義。而測試向量作為IC測試中的重要部分，研究其生成方法也日漸重要。

     IC 測試是指依據(jù)被測器件（DUT）特點和功能，給DUT提供測試激勵（X），通過測量DUT 輸出響應(yīng)（Y）與期望輸出做比較，從而判斷DUT是否符合格。

     根據(jù)器件類型，IC測試可以分為數(shù)字電路測試、模擬電路測試和數(shù)?；旌想娐窚y試。

     數(shù)字電路測試是IC測試的基礎(chǔ)，除少數(shù)純模擬IC如運算放大器、電壓比較器、模擬開關(guān)等之外，現(xiàn)代電子系統(tǒng)中使用的大部分IC都包含有數(shù)字信號。數(shù)字IC 測試一般有直流測試(DC)、交流測試(AC)和功能測試(Functional Test)。

     直流測試是基于歐姆定律的，用來確定器件參數(shù)的穩(wěn)態(tài)測試方法。它是以電壓或電流的形式驗證電氣參數(shù)。直流參數(shù)測試包括：接觸測試、漏電流測試、轉(zhuǎn)換電平測試、輸出電平測試、電源消耗測試等。直流測試常用的測試方法有加壓測流（FVMI）和加流測壓（FIMV），測試時主要考慮測試準(zhǔn)確度和測試效率。通過直流測試可以判明電路的質(zhì)量。如通過接觸測試判別IC引腳的開路/短路情況、通過漏電測試可以從某方面反映電路的工藝質(zhì)量、通過轉(zhuǎn)換電平測試驗證電路的驅(qū)動能力和抗噪聲能力。直流測試是IC測試的基礎(chǔ)，是檢測電路性能和可靠性的基本判別手段。

     交流（AC）參數(shù)測試是以時間為單位驗證與時間相關(guān)的參數(shù)，實際上是對電路工作時的時間關(guān)系進行測量，測量諸如工作頻率、輸入信號輸出信號隨時間的變化關(guān)系等。常見的測量參數(shù)有上升和下降時間、傳輸延遲、建立和保持時間以及存儲時間等。交流參數(shù)最關(guān)注的是最大測試速率和重復(fù)性能，然后為準(zhǔn)確度。

     功能測試用于驗證IC是否能完成設(shè)計所預(yù)期的工作或功能。功能測試是數(shù)字電路測試的根本，它模擬IC的實際工作狀態(tài)，輸入一系列有序或隨機組合的測試圖形，以電路規(guī)定的速率作用于被測器件，再在電路輸出端檢測輸出信號是否與預(yù)期圖形數(shù)據(jù)相符，以此判別電路功能是否正常。其關(guān)注的重點是圖形產(chǎn)生的速率、邊沿定時控制、輸入/輸出控制及屏蔽選擇等。

     功能測試分靜態(tài)功能測試和動態(tài)功能測試。靜態(tài)功能測試一般是按真值表的方法，發(fā)現(xiàn)固定型（Stuckat）故障。動態(tài)功能測試則以接近電路工作頻率的速度進行測試，其目的是在接近或高于器件實際工作頻率的情況下，驗證器件的功能和性能。

     功能測試一般在ATE（Automatic Test Equipment）上進行，ATE測試可以根據(jù)器件在設(shè)計階段的模擬仿真波形，提供具有復(fù)雜時序的測試激勵，并對器件的輸出進行實時的采樣、比較和判斷。

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