HAST老化試驗(yàn)箱（Highly Accelerated Stress Test）加速老化技術(shù)是一種在芯片行業(yè)常用的測(cè)試方法，用于模擬芯片在實(shí)際使用中可能遇到的極端環(huán)境和高溫高濕的工作環(huán)境，以檢驗(yàn)芯片的可靠性和壽命。HAST測(cè)試的原理是將芯片放置在高溫高濕的環(huán)境中，在一定時(shí)間內(nèi)進(jìn)行加速老化測(cè)試，以模擬長(zhǎng)時(shí)間使用后可能出現(xiàn)的問(wèn)題。通過(guò)這種測(cè)試方法，可以在短時(shí)間內(nèi)檢驗(yàn)芯片的可靠性和壽命，從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。

HAST老化試驗(yàn)箱的主要作用包括：

加速老化：通過(guò)提供高溫、高濕和高氣壓環(huán)境，加速產(chǎn)品老化過(guò)程，以模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境下的長(zhǎng)期老化情況。

驗(yàn)證產(chǎn)品可靠性：測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高濕和高氣壓條件下是否能夠正常運(yùn)行，并且沒(méi)有失效或性能下降，有助于產(chǎn)品設(shè)計(jì)人員了解產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的表現(xiàn)，并對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行改進(jìn)和優(yōu)化。

篩選不合格產(chǎn)品：在高壓加速老化試驗(yàn)中，如果產(chǎn)品出現(xiàn)失效或性能下降，那么它們將被視為不合格產(chǎn)品，有助于生產(chǎn)過(guò)程中排除不合格產(chǎn)品，提高產(chǎn)品質(zhì)量。

降低產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期：由于HAST試驗(yàn)箱可以加速產(chǎn)品老化過(guò)程，使得產(chǎn)品可靠性和壽命的驗(yàn)證可以更快地完成，有助于縮短產(chǎn)品的研發(fā)周期，降低產(chǎn)品開(kāi)發(fā)成本。

HAST老化試驗(yàn)箱的特點(diǎn)：

標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)更安全：內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì)防止結(jié)露滴水，符合國(guó)家安全容器規(guī)范；

多重保護(hù)功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機(jī)保護(hù)；

穩(wěn)定性更高：內(nèi)置自研PID控制算法，確保溫度、濕度以及壓力值準(zhǔn)確度。

濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設(shè)定；

智能化高：支持電腦連接，利用usb數(shù)據(jù)、曲線導(dǎo)出保存。