電子元器件測(cè)試篩選服務(wù)也稱之為電子元器件二次篩選。電子元器件的二次篩選是指在元器件廠家篩選的基礎(chǔ)上,由使用方或其委托的第三方對(duì)電子元器件進(jìn)行的篩選。二次篩選是在電子元器件各種失效模式的基礎(chǔ)上,進(jìn)行的一系列有針對(duì)性的試驗(yàn),從而達(dá)到有效剔除早期失效的目的。介于目前我國電子元器件設(shè)計(jì)、制造和工藝等方面的現(xiàn)狀,以及進(jìn)口元器件采購中的諸多不可控因素,電子元器件二次篩選已成為激發(fā)電子元器件潛在設(shè)計(jì)、生產(chǎn)缺陷,有效剔除早期失效產(chǎn)品,提高整機(jī)系統(tǒng)的可靠性等方面必不可少的一環(huán)。
電子元器件測(cè)試貫穿產(chǎn)品設(shè)計(jì)元器件選型、生產(chǎn)階段元器件接收和選用、產(chǎn)品交付階段的產(chǎn)品“二次”篩選。設(shè)法在一批元器件中剔除那些由于原材料、設(shè)備、工藝、人為等方面潛在的不良因素所造成的有缺陷的,或可能發(fā)生早期失效的器件,而挑選出具有一定特性的合格元器件或判定批次產(chǎn)品是否合格接收,提高產(chǎn)品使用可靠性,特別是針對(duì)進(jìn)口元器件,通過“二次篩選”保證產(chǎn)品質(zhì)量可控,提高裝備整體可靠性。
電子元器件測(cè)試篩選一般要求:1.不改變?cè)骷逃锌煽啃?,非破壞性試?yàn);2.對(duì)批次產(chǎn)品進(jìn)行100%篩選;3.剔除早期失效品,提高元器件使用可靠性;4. 篩選等級(jí)由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定。
電子元器件測(cè)試篩選涉及到大量種類的儀器設(shè)備,以下為電子元器件測(cè)試篩選的相關(guān)測(cè)試項(xiàng)目及檢測(cè)儀器設(shè)備清單:
測(cè)試項(xiàng)目 | 檢測(cè)儀器設(shè)備 |
電測(cè)試 | 阻抗分析儀 |
高阻計(jì) | |
耐壓測(cè)試儀 | |
半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng) | |
高精度圖示儀 | |
網(wǎng)絡(luò)分析儀 | |
信號(hào)發(fā)生器 | |
頻譜分析儀 | |
數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng) | |
模擬集成電路測(cè)試系統(tǒng) | |
繼電器測(cè)試系統(tǒng) | |
LCR、電阻計(jì)等 | |
電源模塊測(cè)試系統(tǒng) | |
環(huán)境、應(yīng)力篩選 | 高低溫?zé)崃鲀x:冷熱循環(huán)試驗(yàn) |
振動(dòng)臺(tái):振動(dòng)試驗(yàn) | |
恒定加速度試驗(yàn)臺(tái):恒定加速度試驗(yàn) | |
可編程電源:電壓、功率老煉試驗(yàn) | |
電子負(fù)載:電流、功率老煉 | |
顆粒碰撞噪聲測(cè)試儀 | |
壽命/老化/老煉試驗(yàn) | 單片集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng) |
混合集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng) | |
電源模塊高溫老煉檢測(cè)系統(tǒng) | |
晶體振蕩器高溫老化測(cè)試系統(tǒng) | |
分立器件綜合老煉檢測(cè)系統(tǒng) | |
分立器件間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng) | |
電容器高溫老煉檢測(cè)系統(tǒng) | |
大功率晶體管老煉檢測(cè)系統(tǒng) | |
繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng) | |
繼電器中電平壽命篩選系統(tǒng) | |
繼電器高電平壽命篩選系統(tǒng) | |
外觀檢查 | 光學(xué)顯微鏡 |
金相顯微鏡 | |
密封檢測(cè) | 氦質(zhì)譜檢漏儀 |
碳氟化合物粗檢漏儀 | |
X射線照相 | X-RAY透射系統(tǒng) |
掃描聲學(xué)顯微鏡檢查 | 聲掃檢測(cè)設(shè)備 |
超聲掃描顯微鏡 |
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