元器件的可靠性是指在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)和規(guī)定的條件下，產(chǎn)品完成規(guī)定功能的能力.

(1)規(guī)定時(shí)間:隨著時(shí)間的推移，無(wú)論元器件是否處于工作狀態(tài)，其性能都會(huì)由于各種內(nèi)外部條件的影響而發(fā)生一些變化，其可靠性水平會(huì)隨著工作時(shí)間的延長(zhǎng)而緩慢下降。

(2)規(guī)定條件:可分使用條件和環(huán)境條件不同的使用條件意味著元器件承受的工作應(yīng)力水平不同，環(huán)境條件包括溫度環(huán)境、濕度環(huán)境及振動(dòng)沖擊環(huán)境等.

溫變會(huì)使不同溫度特性材料的內(nèi)應(yīng)力增加而導(dǎo)致?lián)p壞，高濕可導(dǎo)致材料腐蝕和元器件漏電流增加，振動(dòng)沖擊會(huì)使材料疲勞而降低其機(jī)械強(qiáng)度.

（3）規(guī)定功能:是元器件完成其特定任務(wù)的技術(shù)性能指標(biāo)。

電阻器:阻值和功耗

電容器:電壓，電容值，漏電流和損耗角

晶體管:功耗，集電極電流、反向電壓等

二極管:反向電壓，電流，開(kāi)關(guān)時(shí)間等

運(yùn)算放大器:電源電壓，電源電流，放大倍數(shù)等.

元器件的失效率是表征元器件可靠性的主要參數(shù)

度量方法為:在規(guī)定的條件下和規(guī)定的期間內(nèi)，元器件的失效總數(shù)與壽命單位總數(shù)之比。常用的失效率單位是1 / h，繼電器等以動(dòng)作次數(shù)計(jì)算其壽命的元器件，失效率單位為1/ 次。

元器件質(zhì)量等級(jí)高，其工作失效率就低，因而設(shè)備平均故障間隔時(shí)間MIBA就高。

元器件的失效分析的目的：(1)為了尋找和分析失效元器件的失效部位和失效機(jī)理,確定失效原因(2)為改進(jìn)元器件的設(shè)計(jì)、工藝和使用方法提供依據(jù);明確應(yīng)采取的糾正措施，以提高元器件的可靠性。(3)判斷元器件的失效是否屬于批次性質(zhì)量問(wèn)題,為整批報(bào)廢提供決策依據(jù)。

元器件的失效分析適用范圍：（1）對(duì)關(guān)鍵的、重要的以及多次出現(xiàn)失效而未找到原因的元器件應(yīng)進(jìn)行失效分析,提交專(zhuān)門(mén)的失效分析機(jī)構(gòu)或主管部門(mén)認(rèn)可的失效分析機(jī)構(gòu)進(jìn)行，以便了解元器件失效機(jī)理，采取有效糾正措施(2)對(duì)一般元器件的失效也應(yīng)組織有關(guān)人員進(jìn)行分析和試驗(yàn)，找出原因并采取糾正措施。

高低溫沖擊設(shè)備ThermoTST TS760測(cè)試溫度范圍 -70 至 +225°C, 輸出氣流量 4 至 18 scfm, 溫度精度 ±1℃, 能快速進(jìn)行帶電工作的電性能測(cè)試, 失效分析,可靠性評(píng)估等. 通過(guò)持續(xù)運(yùn)行高低溫測(cè)試, 將元器件在不同設(shè)定溫度下的運(yùn)行頻率, 產(chǎn)品工作狀況等相關(guān)參數(shù)自動(dòng)導(dǎo)出并存儲(chǔ)用于后期產(chǎn)檢分析以及產(chǎn)品工藝優(yōu)化. 同時(shí)對(duì)批次的定向品質(zhì)追溯也有較為確實(shí)的數(shù)據(jù)依據(jù)。

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