ATE，全稱Automatic Test Equipment，即芯片自動(dòng)測(cè)試機(jī)臺(tái)，是芯片晶圓以及芯片封裝后，實(shí)施功能及性能測(cè)試的自動(dòng)化設(shè)備。ATE測(cè)試是芯片設(shè)計(jì)-制造-應(yīng)用產(chǎn)業(yè)鏈中，不可缺失的重要環(huán)節(jié)。

ATE主要測(cè)試內(nèi)容為半導(dǎo)體器件的電路功能、電性能參數(shù)，具體涵蓋直流參數(shù)（電壓、電流）、交流參數(shù)（時(shí)間、占空比、總諧波失真、頻率等）、功能測(cè)試等。它主要應(yīng)用于芯片設(shè)計(jì)、晶圓制造、封裝測(cè)試三個(gè)環(huán)節(jié)。

相應(yīng)不同類型的ATE測(cè)試機(jī)臺(tái)，主要有如下四大類ATE板卡：晶圓測(cè)試機(jī)臺(tái)需要用到探針卡（Probe Card）和轉(zhuǎn)接板（英文Interposer，也叫MLO），F(xiàn)T測(cè)試機(jī)臺(tái)需用到負(fù)載板（Load Board），老化測(cè)試機(jī)臺(tái)需用到老化測(cè)試板（Burn-in Board，簡(jiǎn)稱BIB）。

而針對(duì)于測(cè)試板卡中的外包訂單，其主要來(lái)源于IC設(shè)計(jì)企業(yè)，但目前由于國(guó)內(nèi)IC設(shè)計(jì)公司自身已完成了很大一部分測(cè)試板卡的設(shè)計(jì)工作，對(duì)外外包設(shè)計(jì)的部分并不多，故導(dǎo)致測(cè)試板卡外包設(shè)計(jì)企業(yè)相對(duì)較少。

長(zhǎng)川CTT3600測(cè)試機(jī)是以測(cè)試功率器件為目標(biāo)的高性能測(cè)試機(jī)。有1000V/50A、2000V/100A、等不同規(guī)格，主要可測(cè)試三極管、MOSFET、二極管、穩(wěn)壓管、IGBT等功率器件。成都中冷低溫科技有限公司研發(fā)的冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)TS580搭配長(zhǎng)川CTT3600測(cè)試機(jī)應(yīng)用于功率器件特性分析、高低溫溫變測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)。

其特點(diǎn)有：

溫度變化速率快，-55℃至+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒

有效溫度范圍，-80℃至+225℃

結(jié)構(gòu)緊湊，移動(dòng)式設(shè)計(jì)

觸摸屏操作，人機(jī)交互界面

快速DUT溫度穩(wěn)定時(shí)間

溫控精度±1℃，顯示精度±0.1℃

氣流量可高達(dá)18SCFM

除霜設(shè)計(jì)，快速清除內(nèi)部的水汽積聚

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