常用的可測性設計方法包括基于掃描鏈（scan chain）的測試方法和內建自測試電路。

掃描鏈（SC）設計

時序電路的直接測試往往是難以實現的，掃描設計通常能很好的解決之一問題。

掃描設計的主要思想就是把難以進行測試的電路轉化為可測的電路。要實現這一目標，需要把電路中原有的一般觸發(fā)器用可觀測可控制的掃描觸發(fā)器進行代替，這些掃描觸發(fā)器串接到一起形成掃描鏈（Scan Chain，SC），那么，在測試模式下，就可以通過掃描鏈來串行移入移出測試數據，實現對整個電路的控制和觀測。單個掃描觸發(fā)器代替一般觸發(fā)器的例子如圖：

從上圖可以看到，掃描觸發(fā)器在原始觸發(fā)器的基礎上在數據輸入端D 增加了一個多路選擇器，用以實現對輸入數據的選擇，其中Scan in 是掃描數據輸入端口，Scan enable 是輸入選擇控制端，Scan out 復用原始輸出端Q。常見的掃描觸發(fā)器的工作模式有正常工作模式和掃描移位模式兩種：

（1） 正常工作模式：Scan enable 為0 時，此時為正常工作模式，D 輸入端選通，Q 作為輸出端，數據從D 輸入，從Q 輸出；

（2） 掃描移位模式：Scan enable 為1 時，此時為掃描移位模式，Scan in輸入端選通，Scan out 作為掃描輸出，測試數據由Scan in 輸入，由Scan out 輸出。

將掃描觸發(fā)器單元連接在一起，就構成了掃描設計的基本結構。根據是否所有的寄存器都是掃描單元并已連接到掃描鏈，可以將掃描設計分為全掃描和部分掃描。通常為了提高電路的性能，我們往往排除那些不符合可測性設計規(guī)則的寄存器，這樣設計得到的電路一般介于全掃描和部分掃描之間。

對加入掃描設計后的電路進行測試時，我們首先設置模式選擇端sc_en 為1，電路處于掃描移位模式，向掃描輸入端口sc_in 打入測試向量，比如101，通過掃描鏈傳至每個掃描寄存器；然后我們設置sc_en 端口為0，電路進入正常工作模式，并行向三個原始輸入端口A，B，C 打入激勵；從輸出端口Q 捕獲響應數據，分析響應數據就可以達到測試目的。