成都中冷低溫科技有限公司ThermoTST TS系列高低溫測試機可與愛德萬 advantest，泰瑞達 teradyne，惠瑞捷 verigy 測試系統(tǒng)，是德keysight儀器聯用，進行半導體芯片高低溫測試。半導體芯片溫度測試主要是做芯片的溫度沖擊和溫度循環(huán)測試。

某客戶國際半導體廠商選用成都中冷低溫科技有限公司的TS-780 高速溫度測試機，TS-780 提供循環(huán)測試溫度：-80°C 至 +225°C，溫變變化速率快（-55℃至+225℃;≤10s），成功完成芯片的高低溫循環(huán)測試，疲勞失效測試。
TS-780 提供 2 種檢測模式 Air Mode 和 DUT Mode，溫度顯示精度：±1°C (通過CANS認證單位校準) ，不需要液態(tài)氮氣 (N2) 或液態(tài)二氧化碳 (CO2)冷卻。

特點

溫度變化速率快，-55℃至+125℃之間轉換約10秒

有效溫度范圍，-80℃至+225℃

結構緊湊，移動式設計

觸摸屏操作，人機交互界面

快速DUT溫度穩(wěn)定時間

溫控精度±1℃，顯示精度±0.1℃

氣流量可高達18SCFM

除霜設計，快速清除內部的水汽積聚