電源管理芯片 Power Management Integrated Circuits，簡(jiǎn)稱“PMIC”， 是在電子設(shè)備系統(tǒng)中擔(dān)負(fù)起對(duì)電能的變換, 分配, 檢測(cè)及其他電能管理職責(zé)的芯片. 在電源的設(shè)計(jì)中, 需要用到各種形式的管理芯片, 在電測(cè)試下, 隨著電源溫度的變化, 需要保證芯片的正常運(yùn)轉(zhuǎn), 一般芯片的溫度越高, 可靠度越低, 失效率就會(huì)變高. 因此在芯片的設(shè)計(jì)之初就要考慮溫度問題.
PMIC電源管理芯片由于多是在狹小空間內(nèi)工作, 散熱的條件不好, 大多是在高溫的環(huán)境中長(zhǎng)時(shí)間工作, 電源芯片經(jīng)常經(jīng)歷快速升溫的情況, 甚至經(jīng)歷在電壓不穩(wěn)時(shí)快速變溫的情況, 所以電源芯片在出廠時(shí)需要經(jīng)過測(cè)試芯片在快速變溫過程中的穩(wěn)定性, 這點(diǎn)十分重要. 成都中冷低溫科技ThermoTST 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)提供 -100°C 至 +350°C 快速溫度沖擊范圍, 滿足各類PMIC電源管理芯片的高低溫沖擊測(cè)試.
在電源管理芯片可靠性測(cè)試方面, 成都中冷低溫科技有限公司ThermoTest TS 系列高低溫沖擊測(cè)試機(jī) (熱流儀) 有著不同于傳統(tǒng)高低溫箱的獨(dú)特優(yōu)勢(shì): 變溫速率快, 每秒快速升溫 / 降溫15°C, 實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度, 可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度; 針對(duì) PCB 電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊), 單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件; 可與愛德萬 advantest, 泰瑞達(dá) teradyne，是德keysight, 惠瑞捷 verigy 等工程機(jī)聯(lián)用.
| 熱銷型號(hào) | TS-760 | TS-780 | TS-790 |
| 溫度范圍 °C | -65 oC 至 + 225 oC | -80 oC 至 + 225 oC | -90 oC 至 + 225 oC |
| 變溫速率 | -55 oC 至 + 125 oC ； 約10秒 | -55 oC 至 + 125 oC ； 約10秒 | -55 oC 至 + 125 oC ； 約10秒 |
| 空氣干燥系統(tǒng) | 內(nèi)置 | 內(nèi)置 | 內(nèi)置 |
| 控制方式 | 高清觸摸屏 | 高清觸摸屏 | 高清觸摸屏 |
| 出氣流量 scfm | 4 ~ 18 SCFM（1.9L/s ~ 8.5L/s） | 4 ~ 18 SCFM（1.9L/s ~ 8.5L/s） | 4 ~ 18 SCFM（1.9L/s ~ 8.5L/s） |
| 溫度顯示和分辨率 | +/- 0.1°C | ||
| 溫度精度 | 1.0°C（根據(jù) CANS認(rèn)證單位校準(zhǔn)） | ||
TS-780用于PMIC電源管理芯片高低溫沖擊測(cè)試案例: 客戶某生產(chǎn)電源芯片企業(yè), 下圖為實(shí)際的被測(cè)電源芯片, 焊在 PCB 板上. 需要在通電的情況下進(jìn)行溫度測(cè)試. 要求測(cè)試溫度范圍﹣60℃～150℃, 進(jìn)行12組不同形式的循環(huán)溫度設(shè)定.
TS-760 用于PMIC電源管理芯片高低溫沖擊測(cè)試案例: 客戶某研發(fā)電源管理芯片公司, 芯片測(cè)試溫度范圍要求 -40 至 80度,在電測(cè)試時(shí), 同時(shí)搭配測(cè)試儀, 設(shè)定不同的溫度數(shù)值, 檢查不同溫度下電源芯片各項(xiàng)功能是否正常. 通過使用該設(shè)備, 大幅提高工作效率, 并能及時(shí)評(píng)估研發(fā)過程中的潛在問題.
TS-345 在PMIC電源管理芯片高低溫沖擊測(cè)試案例: 客戶某公司, 因封閉型實(shí)驗(yàn)室使用，并對(duì)芯片進(jìn)行 -40 至 +80度的在線式測(cè)試，常規(guī)機(jī)型客戶覺得噪音過大, 選用 TS-345 低噪音移動(dòng)便攜式的高低溫沖擊機(jī)進(jìn)行測(cè)試.
